光譜儀停用了一般時間，光強值降之后打不上去。燈曝光后光強值正常，光強卻很小，是什么原因？
①檢查系統光路，重新描跡。②光強值下降一般是光路的原因，檢查透鏡是否污染或檢查真空室的真空度。③機器需要穩定一段時間，必要時候需要調折射鏡，找譜線。④請檢查一下快門，是否在曝光時沒有完全打開。
04-12-21 ， 瀏覽583
鑄鐵熔煉時鋼水取樣怎樣能使其白口?
爐前化驗，要快，所以需要離爐前很近，樣模盡量取直徑35-40MM，厚6-8MM，外加一小手柄便于用砂輪磨樣，這樣試樣冷卻快，白口好，待鐵水澆后30秒左右（砂模）取出，開水澆再冷水冷。
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突然出現了所有元素偏低的現象是什么原因？
一般不是光譜儀硬件的問題，檢查儀器的透鏡是否被污染，灰的排出是否通暢；氬氣的質量對于元素偏低現象是一個很重要的因素，要確保氬氣質量正常。
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光譜儀跟中頻和變壓器的距離只有10米左右,是否會影響到光譜儀的穩定性和精度?
只要接地良好且可靠，電源波動小，光譜儀受外界干擾就小，如果光譜儀與中頻變壓器用同一相電源，容易引起電磁干擾，有可能造成儀器測量誤差。
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為什么合金中的LOD不同于塑料或土壤中的LOD？
合金和密度更高的基體往往更難獲得較低的檢測水平，因為樣品中會出現某些現象。在諸如鐵合金等密度較大的材料中，很難獲得低鉛的結果。
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合金和采礦模式之間有什么區別？
合金與采礦方式有一些相似之處。兩者都使用FP計算，并且都使用相同的純元素校準集。然而，軟件中的因子集標準和計算是不同的，因為它們針對不同的應用。
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什么是INC？如何在RoHS模式下進行控制？
在均勻樣品上，700–3σ和1300+3σ之間的任何結果都被歸類為INC。對于非均質樣品，該范圍從低端的500增加到高端的150
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什么是儀器測試的區域？
分析儀測試的區域大致與儀器窗口的大小相同。除非使用準直儀器，否則大多數儀器都是如此。在這種情況下，客戶可以選擇6 mm、3 mm和1.5 mm的區域并在分析儀上查看。
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管子的一般壽命是多少？
管子的保修期約為2000小時，即2年。如果儀器每天運行測試（試管激活）4小時，每年50周，試管將在2年內達到2000小時?，F場有許多管子已達到4000小時。
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進行樣品分析時，需要準備什么？
使用便攜式XRF進行篩選分析時，通常不需要樣品制備。如果樣品均勻，則無需制備樣品。通常情況下，樣品不均勻，少量樣品制備有助于獲得更好的結果。
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硅漂移探測器（SDD）和硅引腳二極管探測器之間的區別是什么？
較高的計數率意味著在許多應用中，管可以在較高的電流下工作，因此可以在與管腳相同的測試時間內達到較低的LOD。
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為什么不能用XRF測量氧或氫？為什么像鎂和鋁這樣的輕元素很難測量？
很輕的元素不能用XRF測量的主要原因是這些元素產生的x射線太弱，無法到達探測器。x射線在空氣中傳播的能力取決于它的能量，對于小于2kev的x射線，大多數在到達探測器之前就被吸收了。
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50keV和40keV的分析適合的應用是什么？
當感興趣的元素的發射線能量較高時（通常>20-25keV），50keV激發是有用的。實際上，這意味著像I、Cs、Ba、La、Nd這樣的令人興奮的元素在使用50keV x射線時會容易得多，而使用4...
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